Geri Dön

Analyset of silicon based thin films by fourier transfer infrared spectroscopy

Silikon tabanlı yarı iletken filmlerin kızılötesi spectrometre ile analizi

  1. Tez No: 82520
  2. Yazar: ÖZCAN BAZKIR
  3. Danışmanlar: PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Film, Kızılötesi spektrometre, Yarı iletken filmler, FTIR, local vibration, amorphous film, anharmonic effect mTemmuz 1999, 125 sayfa. Çeşitli silisyum tabanlı hi droj enlenmiş amorf yarı iletken (n, p ve katkılanmış a-Si:H) ve diyelektrik(a-SiNx) filmler, tek bir plasma düzeneğinde büyütülmüştür. Bu amorf ince filmleri, Film, Infrared spectrometry, Semiconductor films
  7. Yıl: 1999
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Özet yok.

Özet (Çeviri)

ABSTRACT ANALYSES OF SILICON BASED THIN FILMS BY FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY Bazkir, Ozcan M.S., Department of Physics Supervisor: Prof. Dr. Bayram Katırcıoğlu July 1999, 125 pages. Various silicon based hydrogenated amorphous semiconducting(n,p and intrin sic a-Si:H) and dielectric(a-SiNx:H) films have been deposited by using a single plasma system. In order to be able to efficiently analyze these amorphous thin solid films by Fourier Transform Infrared(FTIR) spectroscopy, the theory and techniques of the FTIR spectroscopy together with local vibration modes in solid materials, their temperature effect have been discussed. Furthermore heating cooling unit with its temperature control facility has been adapted for the FTIR spectrometer at hand; some signal processing softwares have been developed for the better FTIR analysis.

Benzer Tezler

  1. Determination of optical constants of silicon based amorphous films by UV- visible transmittance and reflectance measurement

    Mor ötesi görünür bölge optik geçirme/yansıma ölçümleri ile silisyum tabanlı amorf filmlerin optik sabitlerinin belirlenmesi

    BARIŞ AKAOĞLU

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU

  2. Küre masif zengin cevherde baz, değerli, nadir metallerin dağılımları ve kazanılması

    Distribution of base, rare and precious metals and their recovery in Küre massive ore

    SEVİL YALÇIN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1995

    Maden Mühendisliği ve Madencilikİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. SUNA ATAK

  3. Effects of illumination on hydrogenated amorphous silican based junctions

    Hidrojenleşmiş amorf silisyum tabanlı eklemler üzerinde aydınlatmanın etkisi

    HÜLYA ATMACAN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. İSMAİL ATILGAN

  4. Tarihi eserlerde kullanılan CaSO4 harç ve sıvalarının incelenmesi

    Investigation of historical CaSO4 mortars and plasters

    ESRA Z. UZGİL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1995

    Kimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    DOÇ.DR. TÜLAY TULUN

  5. Bor karbür oluşum koşullarının belirlenmesi ve toz karakterizasyonu

    Determination of boron carbide formation reaction conditions and powder characterization

    GÜLTEKİN GÖLLER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. ADNAN TEKİN