Geri Dön

Gözenekli silisyumda He-Ne lazerinin yapısal etkileri

Structural effects of He-Ne laser on porous silicon

  1. Tez No: 79194
  2. Yazar: AHMET OGEDAY OLCAYTO
  3. Danışmanlar: PROF. DR. EMEL ÇINGI
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Lazerler, Silisyum, Lasers, Silicon
  7. Yıl: 1998
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Yıldız Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

ÖZET Silisyum, yüksek oranda elektronik fonksiyonelliğe ideal bir örnek olarak entegre devrelerin en temel malzemesidir. Ayrıca oda sıcaklığında çalışma için ideal olan 1.12 eV'luk enerji aralığı ve tek bir çip üzerine 108 komponent yerleştirmeyi mümkün kılan Si02 bileşiği ile yarıiletken teknolojisinde ideal bir elementtir. Gözenekli silisyum ince silisyum levhalarının HF bazlı elektrolitte anodizasyonu veya bir HF.HNO3:Distile su karışımında herhangi bir gerilim uygulamadan yüzey aşındırma yöntemi ile elde edilir. Normal silisyumdan en önemli farkı oda sıcaklığında fotoluminesans özellik sergilemesidir. Bu çalışma gözenekli silisyum üzerine yapılan yapısal bir araştırmadır. Bu çalışmada n ve p tipi ince silisyum levhaları üzerinde elektrolizsiz yüzey aşındırma yöntemi ile büyütülen gözenekli silisyum levhalarının yapısal özellikleri infrared spektrumu yardımı ile çalışılmıştır. Deney sırasında bazı örnekler üzerindeki gözenekli silisyum tabaları He-Ne lazeri altında büyütülmüştür. He-Ne lazerinin p-tipi örneklerde etkisi net olarak gözükmemektedir. Ancak He-Ne lazerinin n-tipi örneklerde enerji bantlarım kuvvetlendirdiği gözlenmiştir. Daha sonra bu sonuçların net olarak gözlendiği iki örnek belli sıcaklıklarda tavlanarak,100,200,300,400,450°C), IR spektrumları alınmıştır. Bu spektrumlarda 2300 cm"1 civarında hidrojen ilgili olduğu düşünülen bir bant gözlenmiştir. Yüzeydeki malzemenin artan tavlama sıcaklıklığıyla desorpsiyonu literatürle uyum içindedir.

Özet (Çeviri)

ABSTRACT Silicon, as an high density ideal example for electronic functionality, is the basic material for the integrated circuits. Also with the ideal 1.12 eV bandgap that makes it compatible for operating at room temperature and with the Si02 compound which allows 108 components to be placed on a single chip, is the ideal element for semiconductor technology. Porous silicon can be made of silicon wafers which can be anodized in HF based electrolytes or by the electroless etching in a HF:HN03:Distilled Water solution. The great difference of porous silicon from bulk silicon; it exhibits photoluminescence at room temperature. This study is a structural study that is made on porous silicon. In this study, structural properties of porous silicon layers that is grown on n & p type silicon wafers are studied by the help of Infrared Spectrometer (IR). Some of the porous silicon layers are grown under He-Ne laser. The effect of He-Ne laser can't be observed in p-type wafers clearly. But its been observed that in n-type samples He-Ne laser made the energy bands stronger. Then two of the samples which these effects can be seen clearly are annealed at certain temperatures (1 00,200,300,400,450°C). Then IR spectrums of these samples are investigated. In these spectrums a new band around 2300 cm'1, which is thought to be hydrogen related, is observed. The desorption of the surface species by the increasing annealing temperature is in agreement with the literature.

Benzer Tezler

  1. Gözenekli silisyum'da elektriksel olayların incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    GÖKHAN ALGÜN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1996

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. M. ÇETİN ARIKAN

  2. Gözenekli silisyum'da optik olayların incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    ADEM SOYLAMIŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1997

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. M. ÇETİN ARIKAN

  3. Metal-gözenekli silisyum eklemlerin elektriksel özellikleri

    The Electrical properties of metal-prous silicon junctions

    SUNA ÖZTEMEL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1999

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. TAYYAR CAFEROV

  4. Gözenekli silisyumun yapısal ve optiksel incelenmesi

    Optical and structural investigation of porous silicon

    ERSİN KAYAHAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1997

    Fizik ve Fizik MühendisliğiKocaeli Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YÜKSEL BEKTÖRE

  5. Gözenekli silisyumun elektriksel ve optik özellikleri

    Electrical and optical properties of porous silicon

    BİRSEL CAN ÖMÜR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1999

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YANİ SKARLATOS