Film örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 24823
- Danışmanlar: DOÇ. DR. NEVZAT KAVCAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Elipsometri, Oksitlenme, İnce filmler, Ellipsometry, Oxidation, Thin films
- Yıl: 1992
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Cumhuriyet Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET Bu çalışmada, vakumda ısısal buharlaştırma tekniği ile kuvars taşıyıcılar üzerine In, cam taşıyıcılar üzerine Ag-Cu ve yine cam üzerine CuInSe2 filmler kaplandı. Cu filmler yaklaşık 2000 Â, CuInSe2 filmler 0,35-1 mikron kalınlığındadır. Ag ve in filmlerinin kalınlıkları ise sırasıyla 15-800 Â, 36-2000 Â aralığında değerlere sahiptir. Bu örnekler vakumdan çıkarıldıktan hemen sonra ve olağan laboratuvar ortamında tutulurken belirli periyotlarla elipsometrik ölçümler yapıldı. Tam elipsometri eşitlikleri ve kompütür programı uygulanarak alt katmanın ve filmler üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan doğal oksit ince filmlerinin optik özellikleri belirlendi. Ag filmler üzerinde oluşan Ag2S, in ve CuInS^ filmler üzerinde oluşan In2Og filmlerinin büyüme hızları için ampirik bağıntılar türetildi.
Özet (Çeviri)
SUMMARY In this study, In films onto quartz substrates, Ag-Cu films onto glass substrates and CuInSe2 films also onto glass substrates were covered by the method of thermal evapo ration in vacuum. The thickness of Cu films are approximately 2000 Â and the thickness of QjInSe2 films are 035-1 micron. The tfiickness of Ag and In films are between 15-800 Â and 36-2000 Â respectively. Soon after the samples are taken out from the va cuum and while they are waited in the environment of ordinary laboratory, the ellipso- metric measurements were made periodically. By applying the exact equations of ellipso- metry and computer program, the optical properties of underlying layer and the natural oxide thin films grown up naturally on the films were determined. The empirical relati onships were derived for the growth-rates of Ag2S grown up on Ag films, and also I112O3 grown up on In and CuInSe2 films.
Benzer Tezler
- Televizyonun çocuklar üzerindeki etkisi
Başlık çevirisi yok
GIYASETTİN TAYFUR
Yüksek Lisans
Türkçe
1989
Radyo-TelevizyonMarmara ÜniversitesiRadyo Televizyon Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ÜNSAL OSKAY
- Plak kapağı tasarımının grafik sanatlar içindeki yeri (1960 sonrası)
Başlık çevirisi yok
G. EMİN SONAD
- Ranitidin hidroklorürün toz, granüle ve tablet özelliklerine nemin etkisi
Başlık çevirisi yok
KAMURAN UZUNARSLAN
- Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan alüminyum ince filmlerin optik özellikleri
Başlık çevirisi yok
HÜSEYİN DERİN
Yüksek Lisans
Türkçe
1991
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. KAYHAN KANTARLI
- Basın özgürlüğünü tehdit eden unsurların ekonomik, hukuki ve uluslararası boyutunun incelenmesi ve çözüm önerileri
Başlık çevirisi yok
RIZA KADILAR