İstatistiksel kalite kontrolünde üstel ve weibul dağılımların X-kontrol grafiklerine uygulanması üzerine teorik bir yaklaşım
A Theoretical approach on the X-control diagrams application of the exponential and weibull distributions in statistical quality control
- Tez No: 96022
- Danışmanlar: DOÇ. DR. MAHMUT KARTAL
- Tez Türü: Doktora
- Konular: İşletme, Business Administration
- Anahtar Kelimeler: Kalite, Kontrol grafikleri, Weibull dağılımı, X kontrol grafiği, Üstel dağılım, İstatistiksel kalite kontrol, İstatistiksel süreç kontrol, Quality, Control charts, Weibull distribution, X control diagram, Exponential distribution, Statistical quality control, Statistical process control
- Yıl: 2000
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Cumhuriyet Üniversitesi
- Enstitü: Sosyal Bilimler Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: İşletme Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Sayısal Yöntemler Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu çalışmada, X kontrol grafiklerinin üstel ve Weibull dağılıma sahip veriler için düzenlenmesi konusu incelenmiştir. İlk bölümde, İstatistiksel Proses Kontrolü (İPK) ile ilgili genel tanımlar ve bilgiler verilmiştir. Sonra kontrol grafiklerinin temel dayanakları ve faraziyelerinden bahsedilmiş ve bununla ilgili geleneksel uygulamalardan örnekler verilmiştir. İkinci bölümde, geleneksel yaklaşımdaki X kontrol grafiklerinin normal olmayan (non-normal) dağılım kullanıldığı zaman nasıl düzenleneceğine örnek olarak üstel ve Weibull dağılım ele alınmıştır. Bu iki dağılım ile ilgili olarak genel özellikleri hakkında bilgiler verilmiştir. Üçüncü bölümde, üstel ve Weibull dağılımın X kontrol grafiklerinde uygulanabilirliği hususunda teorik bir çalışma yapabilmek için gerekli olan tesadüfi değişkenlerin üretimi konusu ele alınmıştır. Bununla ilgili olarak üstel ve Weibull dağılım için tesadüfi değişken üretiminde kullanılan ters dönüşüm (inverse transform) metodu hakkında bilgiler verilmiştir. Sonra bu metod kullanılarak üstel ve Weibull dağılım için tesadüfi sayı üreteçleri hazırlanmıştır. Dördüncü bölümde, üstel ve Weibull dağılım için kontrol sınırlarının belirlenmesi konusu ele alınmış ve bu sınırların nasıl belirlendiği gösterilmiştir. Sonra bu sınırların, üstel ve Weibull dağılıma ait farklı parametrelere göre hesaplanan değerleri verilmiştir. Beşinci bölümde, üçüncü bölümde hazırlanmış olan tesadüfi sayı üreteçleri kullanılarak, üstel ve Weibull dağılımın farklı parametrelerine göre üretilen tesadüfi sayılar için X kontrol grafikleri düzenlenmiştir. Sonuç bölümünde, üstel ve Weibull dağılımın X kontrol grafiklerine uygulanabilirliği çalışmasından elde edilen sonuçlar değerlendirilmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study, the arrangment for the data of the exponential and Weibull distributions of the X control diagrams has been examined. In the first chapter, the general definitions and information concerned with Statistical Process Control (SPC) have been given. Then, the fundamental basics and assumptions of the control diagrams have been mentioned, and the traditional applications examples which are concerned have been given. In the second chapter, the exponential and Weibull distributions have been considered as examples of how to arrange the X control diagrams in the traditional approach, which non-normal distributions have been used. The third chapter describes the random variables generation in order to make a theoretical study concerning the applicability of the X control diagrams of the exponential and Weibull distributions. In this context, the inverse-transform method has been used in generating random variables for the exponential and Weibull distributions have been introduced. Then, using this method, the random number generators have been prepared for the exponential and Weibull distributions. In the fourth chapter, how to determine control limits of the exponential and Weibull distributions have been shown. Then, the accounted values of these limits for different parameters of the exponential and Weibull distributions have been given. In the fifth capter, using the random number generators prepared in the third chapter the X control diagrams have been arranged for generated random numbers with respect to different parameters of the exponential and Weibull distributions. In the conclusion chapter, the results obtained from the study of the applicapability of the exponential and Weibull distributions to the X control diagrams have been evaluated.
Benzer Tezler
- The Comparison of EWMA control chart with shewhart and CUSUM control charts by simulation
EWMA kontrol kartının, shewhart ve CUSUM kontrol kartları ile simulasyon yolu ile karşılaştırılması
ÖZLEM EGE
Yüksek Lisans
İngilizce
1997
İstatistikDokuz Eylül Üniversitesiİstatistik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. LEVENT ŞENYAY
- Sanayi domatesinde azot, fosfor ve potasyumlu gübrelerin verim ve kaliteye etkileri
Başlık çevirisi yok
ŞENAY AYDIN
- Kalite fonksiyon açınımının istatistiksel süreç kontrolündeki kullanımında hedef programlama yaklaşımı
Goal programming approach to implement quality function deployment in statistical process control
İREM KALAYCIOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
Endüstri ve Endüstri Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiEndüstri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MEHMET TANYAŞ
- Kalite için istatistiksel süreç kontrolünde birikimli toplam grafiği ve süreç kontrolünün durum uzayında incelenmesi
Cumulative sum charts in statistical process control for quality and a study on process control in state space
TAYFUN ÖZDEMİR
- Çevrim dışı kalite kontrolünde süreç parametrelerinin belirlenmesine bir uygulama
Başlık çevirisi yok
MERİÇ ALPER
Yüksek Lisans
Türkçe
1993
Endüstri ve Endüstri MühendisliğiAnadolu ÜniversitesiEndüstri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. DOĞAN EROL