Atomik kuvvet mikroskobunun sitogenetik analizde kullanımı
The Use of atomic force microscopy in cytogenetic analysis
- Tez No: 79455
- Danışmanlar: PROF. DR. ADNAN MENEVŞE
- Tez Türü: Tıpta Uzmanlık
- Konular: Tıbbi Biyoloji, Medical Biology
- Anahtar Kelimeler: Kardeş kromatid değişimi, Kromozom bantlama, Kromozomlar, Mikroskopi, Sitogenetik, Sister chromatid exchange, Chromosome banding, Chromosomes, Microscopy, Cytogenetics
- Yıl: 1999
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Tıp Fakültesi
- Ana Bilim Dalı: Tıbbi Biyoloji ve Genetik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
44 VI- ÖZET Atomik kuvvet mikroskobu (AKM), 1986 yılında Binnig, Quate ve Gerber tarafından bulunmuştur. Yöntem; çok ince bir prob yardımıyla, örnek yüzeyinin taranması esasına dayanmaktadır. Bu çalışmada, AKM ile sayısal ve yapısal kromozom anomalilerinin gösterilmesinin yanısıra, bantlama yöntemleri hakkında ayrıntılı incelemeler yapılması ve AKM'nin sitogenetik analizde kullanımının değerlendirilmesi amaçlanmıştır. Öncelikle, bantlanmamış insan metafaz kromozomlarının incelenmeleri ile sayısal kromozom anomalilerinin tanısının nasıl koyulabileceği tartışılmıştır. Bu amaçla trizomi 13, 21 ve Klinefelter Sendromlu hastalar seçilmiştir. Yapısal kromozom anomalilerinin araştırılması amacıyla, 46,XY,t(21q;21q) ve 46,XX,t(14q;21q) karyotiplerini içeren translokasyon tipi Down Sendrom'lu iki hasta ile 46,XX,t(11q;13q) karyotipine sahip bir hastadan elde edilen metafaz plakları incelenmiştir. G-bantlama sırasında oluşan yapısal değişiklikler, aynı metafaz üzerinde, bantlamanın her evresinde AKM ile incelenmiştir. Ayrıca, tripsin süreleri değiştirilerek kromozomlar üzerindeki etkisi araştırılmıştır. C-bantlama, polimorfizm araştırmalarında kullanılan, kromozomlarda sentromere yakın bölgelerdeki yapısal heterokromatini araştırmada kullanılan önemli bir yöntemdir. Heterokromatin yapı, insan kromozomlarının sentromer bölgelerinde ve Y kromozomunda ise uzun kolun distal kısmında gözlenir. Bu çalışmada, C-bantlama sırasında, kromozomlarda ortaya çıkan değişimler AKM ile incelenmiştir. Kardeş kromatid değişimi (KKD); mutajenite taraması için rutin olarak kullanılan bir testtir. Buradaki mekanizmaları anlamak için aynı metafaz üzerinde KKD uygulamasının her aşaması AKM ile görüntülenmiştir.
Özet (Çeviri)
Özet çevirisi mevcut değil.
Benzer Tezler
- Noise analysis of interdigital cantilevers for atomic force microscopy
Atomik kuvvet mikroskobu için birbirine geçmiş parmaklı kaldıraçların gürültü çözümlemesi
GÖKSEN GÖKSENİN YARALIOĞLU
Doktora
İngilizce
1998
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiElektrik ve Bilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ABDULLAH ATALAR
- Theory of atomic scale friction
Atomik düzeyde sürtünmenin teorisi
ALPER BULDUM
Doktora
İngilizce
1998
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SALİM ÇIRACI
- Al/SnO2/p-Si/Al yapılarında yüzey şartlarının elektroniksel iletkenliğe etkisi
The Effect of surface conditions on electronic transportation mechanism of Al/SnO2/P-Si/Al structure
SERDAR KARADENİZ
Doktora
Türkçe
2001
Fizik ve Fizik MühendisliğiAnkara ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TÜLAY SERİN
- Holographic interferometry and its application to visualization of large displacement and obtaining relief holograms on agfa 8E56 HD emulsion
Holografik interferometri ve büyük yerdeğişmelerin gözlemlemesi ve agfa 8E56 HD emulsiyonunda rölyef hologram oluşturulması
FEVZİ NECATİ ECEVİT
Doktora
İngilizce
1995
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Bölümü
PROF.DR. RAMAZAN AYDIN
- Bi (Pb) Sr Ca CuO süperiletken ince filmlerinin üretimi, bazı yapısal ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi
The production of Bi(Pb)srcacuo superconducting thin films and the investigation of their structural and electrical properties
AHMET VARİLCİ
Doktora
Türkçe
1997
Fizik ve Fizik MühendisliğiKaradeniz Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUSTAFA ALTUNBAŞ