Geri Dön

AIN/Si Dağınımlı Bragg aynasının büyütülmesi ve karakterizasyonu

Growth and characterization of AIN/Si Distributed Bragg reflector

PDF İndir

  1. Tez No: 779645
  2. Yazar: EMİNE KAYNAR
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. MUHAMMED SAYRAÇ, DOÇ. DR. BEHÇET ÖZGÜR ALAYDİN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Bilim ve Teknoloji, Mühendislik Bilimleri, Science and Technology, Engineering Sciences
  6. Anahtar Kelimeler: Alüminyum alaşımları, Silikonlar, X ışını kırınımı, Aluminum alloys, Silicones, X ray diffraction
  7. Yıl: 2022
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Sivas Cumhuriyet Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Nanoteknoloji Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Nanoteknoloji Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Bu tez çalışmasında, Sivas Cumhuriyet Üniversitesi İleri Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi (CÜTAM)'nde bulunan Nanovak NVTS-400 magnetron püskürtme sistemi ile Si alttaş üzerine AlN/Si (6 çift) Dağıtılmış Bragg Reflektörü- (Distributed Bragg Reflector-DBR) yapısı büyütülmüş ve karakterizasyonları yapılmıştır. Büyütülen DBR yapısı ileri aşamada Dikey Dış Kovuklu Yüzey Işımalı Lazer (Vertical External-Cavity Surface-Emitting Laser -VECSEL) yapısı için ayna olarak kullanılacaktır. Telekom dalga boylarında VECSEL yapısında daha önce kullanılan DBR'ler ile GaAs tabanlı yarı iletken VECSEL performanslarının elde edilememesinin iki temel nedeni vardır; DBR yapısında kullanılan yarı iletkenlerin düşük termal iletkenliğe ve kırılma indisi farkı sahip olmalarıdır. Bu yüzden hem yüksek termal iletkenlik farkına sahip hem de yüksek kırılma indisi farkına sahip AlN ve Si yarı iletkenleri seçilmiştir. Püskürtme sistemi ile DBR yapısı büyütülürken ilk olarak tek katman çalışmaları gerçekleştirilmiş, optimum büyütme metodu ve şartları belirlenmiştir. Daha sonra büyütülen kristallerin kalitesi X-ışını kırınımı (XRD) ve spektrofotometre ile analiz edilmiştir. Yapıların kırılma indisi ve kalınlık değerleri spektroskopik elipsometre ile belirlenmiştir. Optimum koşullar belirlendikten sonra katman sayıları artırılarak DBR yapıları büyütülmüştür. DBR için son derece önemli olan yüksek yansıma değerlerini elde etmek için her büyütmeden sonra spektrofotometre ile yansıma ölçümü gerçekleştirilmiştir. Diğer yandan DBR yapılarının kalınlık değerleri Taramalı Elektron Mikroskobu (Scanning Electron Microscope-SEM) ile analiz edilmiştir. Kalınlık optimizasyonu tamamlandıktan sonra 6 çift AlN/Si DBR yapısı büyütülmüştür ve yapılan yansıma ölçümü ile %99'un üzerinde yansıma elde edilmiştir. Bu da büyütülen DBR'nin düşük yansıma kayıpları ile VECSEL yapılarında kullanımının uygun olduğunu göstermektedir.

Özet (Çeviri)

In this thesis, the structure of AlN/Si (6 pairs) Distributed Bragg Reflector- (DBR) on Si substrate has been grown by the Nanovak NVTS-400 sputter system in Sivas Cumhuriyet University Advanced Technology Research and Application Center (CÜTAM). The characterizations of these samples have been performed in CUTAM. The grown DBR structure will be used as a mirror for the Vertical External-Cavity Surface-Emitting Laser (VECSEL) structure in the future. There are two main reasons why GaAs-based semiconductor VECSEL performances cannot be obtained with DBRs previously used in the VECSEL structure at telecom wavelengths; Semiconductors used in DBR structure have low thermal conductivity and refractive index difference. Therefore, AlN and Si semiconductors with both high thermal conductivity difference and high refractive index difference have been selected. While the DBR structure has been grown with sputter system, firstly, single layer studies have been carried out and the optimum growth method and conditions have been determined. The quality of the grown crystals was then analyzed by X-ray diffraction (XRD) and spectrophotometer. The refractive index and thickness values of the structures have been determined by spectroscopic ellipsometry. After the optimum conditions have been determined, DBR structures have been grown by increasing the number of layers. In order to obtain high reflectance values, which are extremely important for DBR, reflection measurement has been performed with a spectrophotometer after each growth. On the other hand, thickness values of DBR structures have been analyzed by Scanning Electron Microscope (SEM). After the thickness optimization has been completed, 6 pairs of AlN/Si DBR structures have been grown and more than 99% reflection has been obtained with the reflection measurement. This shows that the amplified DBR is suitable for use in VECSEL structures with low reflection losses.

Benzer Tezler

  1. Tez No

    397918

    Synthesis of composite resol resins and application for glass wool production

    Kompozit resol reçinelerinin sentezi ve cam elyaf üretiminde kullanımı

    ÜMRAN BURCU ALKAN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2015

    Polimer Bilim ve Teknolojisiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Polimer Bilim ve Teknolojisi Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NİLGÜN KIZILCAN

  2. Tez No

    201114

    Mezogözenekli Cu-MCM-41 ile yüksek sıcaklıkta proses gazı desülfürizasyonu

    Process gas desulfurization at high temperature with mesoporous Cu-MCM-41

    ZEYNEP ÖZAYDIN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2007

    Kimya MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Kimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. GÜLŞEN DOĞU

    YRD. DOÇ. DR. SENA YAŞYERLİ

  3. Tez No

    503464

    Chemical composition of atmospheric particles as a tool to identify sources affecting aerosol population in the Eastern Black Sea atmosphere

    Doğu Karadeniz atmosferindeki aerosol popülasyonunu etkileyen kaynakların belirlenmesinde atmosferik parçacıkların kimyasal bileşiminin bir araç olarak kullanılması

    İLKER BALCILAR

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2018

    Çevre MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Çevre Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SÜLEYMAN GÜRDAL TUNCEL

  4. Tez No

    153531

    A study on the stress-strain behavior of railroad ballast materials by use of parallel gradation technique

    Paralel tane çapı dağılımı yöntemiyle demiryolu balast malzemelerinin gerilme-birim deformasyon davranışı üzerine bir çalışma

    MUSTAFA KAYA

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2004

    İnşaat MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    İnşaat Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. YENER ÖZKAN

  5. Tez No

    827141

    p tipi Si ve iletken tabanlı CdS heteroeklemlerin kimyasal depolama yöntemiyle elde edilmesi ve karakterizasyonu

    Obtaining and characterization of p type Si and conductive substrated CdS heterojunctions by chemical bath deposition method

    EMEL YILDIRIM

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiMersin Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HÜLYA METİN GÜBÜR

    DOÇ. DR. ALİ KEMAL HAVARE

Geri Dön