Multistage repeated inspection allocation with initially unknown defective probabilities
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 7288
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. SİNAN KAYALIGİL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: İstatistik, Statistics
- Anahtar Kelimeler: muayene olanakları yerleştirim problemi, Bayes kestirim yöntemi, karmaşık üretim süreçleri, tekrarlı kontrol. vı, Hata olasılığı, Tekrarlı kontrol, inspection allocation problem, Bayesian estimation, nonserial production processes, repeated inspection IV, Bayes Estimation Method, Error probability, Repeated control
- Yıl: 1990
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET BAŞLANGIÇTA BİLÎNMEYEN HATALI OLMA OLASILIKLARI İLE TEKRARLI MUAYENE YERLEŞTÎRİMİ PEKGÜLEÇ, İnci Yüksek Lisans Tezi : Yöneylem Araştırması Tez Yöneticisi : Y. Doç. Dr. Sinan KAYALIGİL Ocak, 1990, 105 sayfa Karmaşık üretim süreçlerinde tekrarlı % 100 muayene uygulandığı durumlarda, hatalı girdi olasılıklarındaki değişikliklerin etkilerini incelemek üzere muayene olanaklarının yerleştirimi problemi modellenmiştir. Bayes kestir im yöntemi II. tip hata yapan muayene elemanları için geliştirilmiş ve hatalı girdi olasılıklarının bilgi vermeyen önsel dağılım fonksiyonu göz önüne alınarak sonsal dağılım fonksiyonunun kestirimi için kullanılmıştır. Duyarsızlık bölgeleri; en iyi kararın değişmediği bölgeler, en kısa yol modeli kullanılarak olasılıklar cinsinden elde edilmiştir.Sonsal yoğunluk fonksiyonu bu bölgelerdeki üst ve alt kestirimlerin beklenen maliyetlerini bulmak için kullanılmıştır. En iyi karar bu üst ve alt kestirim maliyetlerini en küçükleyerek elde edilmiştir. Bu yöntemin avantajı, muayene anında elde edilen bilgileri kullanması ve ilave bir maliyet ya da emek istememesidir. Bir uygulama problemi önerilen modeli doğrulamak için çözülmüştür.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT MULTISTAGE REPEATED INSPECTION ALLOCATION WITH INITIALLY UNKNOWN DEFECTIVE PROBABILITIES PEKGÜLEÇ, Inci M.S. in Operational Research Supervisor : Assist. Prof.Dr. Sinan KAYALI GIL January, 1990, 105 pages The inspection allocation problem (IAP) in a special class of non-serial production processes where 100% repeated inspections are made is formulated to deal with the effects of changes in input defect probabilities. For the inspectors who are due to make type II error the Bayesian estimation methodology is developed and is used to find the posterior probability distribution function (PDF) of input defect probabilities considering noninformative prior PDF. The insensitivity regions; regions where the optimal decisions do not change are obtained in terms of probabilities by using shortest path modeling. IllThe posterior PDF is used to find expected costs of overestimation and underestimation for each of these regions. Optimum decision is obtained by minimizing the sum of these overestimation and underestimation costs. The advantage of this methodology is, it uses the information obtained during the inspection and does not need any extra efforts and costs. An application problem is solved to justify the proposed methodology.
Benzer Tezler
- Allocation of inspection effort in multistage nonserial production systems
Başlık çevirisi yok
ÖZGÜR KARACA
Yüksek Lisans
İngilizce
1988
Endüstri ve Endüstri MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiYRD. DOÇ. DR. SİRAN KAYALIGİL
- Çok-düzeyli kodlama/çok-aşamalı kod çözme tekniğinin incelenmesi ve frekans/faz kaydırmalı anahtarlama modülasyonuna uygulanması
Multilevel coding/multistage decoding and its application to frequency/phase shift keying modulation
İBRAHİM ALTUNBAŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
1992
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiYRD. DOÇ. DR. ÜMİT AYGÖLÜ
- Alt band ayrıştırmasıyla görüntü kodlama
Başlık çevirisi yok
BURÇİN AÇAN
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MELİH PAZARCI
- Generalized filtering configurations with applications in digital and optical signal and image processing
Genellenmiş süzgeçleme konfigürasyonları ve bunların sayısal ve optiksel işaret ve görüntü işlemedeki uygulamaları
MEHMET ALPER KUTAY
Doktora
İngilizce
1999
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiElektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. HALDUN M. ÖZAKTAŞ
- Egzersiz testine bağlı“R dalgası”voltaj değişiklikleri ve koroner anjiyografi ile korelasyonu
Başlık çevirisi yok
KADRİ YAMAÇ