Bizmut katkılı ZnO ince filmlerin X-ışını yansıma yöntemiyle bazı fiziksel özelliklerinin incelenmesi
Inventigation of some physical propertices of bismuth doped ZnO thin films by X-ray reflection
- Tez No: 708794
- Danışmanlar: PROF. DR. FERHAT ASLAN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Kalınlık, X ışını, Yoğunluk ölçümü, Çinko oksit, İnce filmler, Thickness, X ray, Density measurement, Zinc oxide, Thin films
- Yıl: 2022
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Harran Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
İnce film malzemeler nano teknolojinin önemli bir parçası olmuş durumdadırlar. Esnek ve sert alttaşlara kolayca uygulanabilmektedirler. İnce filmler karasal ve uzaysal uygulamalarda sıklıkla kullanılmaktadırlar. Özellikle güneş hücrelerinin yapısında ince filmler önemli rol oynamaktadır. Bu yapıların, yoğunluğu ve kalınlığı belirlenmesi gereken önemli parametrelerdendir. Örneğin kalınlığa bağlı olarak filmlerin elektriksel özdirençleri değişmektedir. O yüzden bahsi geçen bu iki parametrenin ince filmlerde hassas bir şekilde belirlenmesi gerekmektedir. X-ışını yansıma (XRR) yöntemi çok katmanlı ince filmlerin kalınlık, yoğunluk ve yüzey pürüzlülüğünün belirlenmesinde kullanılmaktadır. Bu yöntemle birkaç Angström hassasiyetle filmlerin bu özellikleri kolayca belirlenebilmektedir. Bu tez çalışmasının amacı bizmut katkılı çinko oksit ince filmlerin fiziksel özelliklerinin belirlenmesidir. Kimyasal yöntemle hazırlanmış olan bizmut katkılı ve katkısız çinko oksit filmler cam altlıklar üzerine üretilmiştir. Çözeltilerdeki Bi/Zn molar oranları sırasıyla %1, %2, %3, %4 ve %10 olarak belirlenmiştir. X-ışını kırınımı (XRD) analizi sonuçlarına göre katkısız çinko oksitlerin 34.8o derecede (002) Miller indisli pikleri ortaya çıkmıştır. Bizmut katkılı filmlerde ise XRD pikleri kaybolmuştur. Optiksel ölçümler, bizmut katkılı filmlerin katkısız filmlere göre tamamen farklı optiksel geçirgenlik, kırılma indisi, yansıma değerleri sergilediğini göstermektedir. X-ışını yansıma (XRR) ölçümleri ise bizmut katılması ile kritik açının genel olarak azaldığını ve buna bağlı olarak filmlerin yoğunluklarının da azaldığını göstermektedir. XRR ölçümü ile elde edilen sonuçlara göre filmlerin kalınlıkları 8 nm ile 24 nm arasında değişmektedir.
Özet (Çeviri)
Thin-film materials have become an important part of nanotechnology. They can be easily applied to flexible and hard substrates. Thin film sare frequently used in terrestrial and spatial applications. Thin films play an important role in the structure of solar cells. Density and thickness of these structures are important parameters to be determined. For example, the electrical resistivity of the films changes depending on the thickness. Therefore, these two parameters must be determined precisely in thin films. X-ray reflection (XRR) method is used to determine the thickness, density and surface roughness of multilayer thin films. With this method, these properties of films can be easily determined with a sensitivity of a few Angstroms. Theaim of this thesis is to determine the physical properties of bismuth doped ZnO thin films. Bismuth added and undoped zinc oxide films prepared by chemical method were produced on glass substrates. Bi/Zn molarratios in the solutions were determined as 1%, 2%, 3%, 4% and 10%, respectively. According to the results XRD analysis, Miller indexpeaks of pure zinc oxide were observed at 34.8o (002). On the other hand, XRD peak sdisappeared in bismuth added films. Optical measurements show that bismuth doped films exhibit completely different optical transmittance, refractive index and reflectance values comparedto undoped films. X-ray reflection (XRR) measurements show that the critical angle generally decreases with the addition of bismuth, andaccordingly, thedensities of the films also decrease. According to the results obtained by XRR measurement, the thickness of the films varies between 8 nmand 24 nm.
Benzer Tezler
- Bizmut katkılı çinko oksit ince filmlerin üretilmesi ve karakterizasyonu
Bismuth doped zinc oxide thin films production and characterization
KADRİYE YALÇIN
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Metalurji MühendisliğiFırat ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. TÜLAY YILDIZ
- KNNS-BNW seramiklerin ZnO katkısına bağlı olarak dielektrik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of dielectric properties of KNNS-BNW ceramics depending on ZnO additive
FATMA HAZAL BABAÖZÜ
Yüksek Lisans
Türkçe
2024
Metalurji MühendisliğiSakarya ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞADUMAN ŞEN
- TeO2-ZnO-Al2O3-Bi2O3 oksitli camlarının üretimi, yapısal ve mekanik özellikleri
Production of the TeO2-ZnO-Al2O3-Bi2O3 oxide glasses and structural and mechanical properties
SIRRI SEMİH ÖZTÜRK
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Metalurji MühendisliğiKarabük ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ ERKAN KOÇ
PROF. DR. İDRİS KABALCI
- Tb4O7,La2O3,Sm2O3 ve Nd2O3 dörtlü katkılı Bi2O3 elektrolit malzeme sentezlenmesi, yapısal ve elektriksel özelliklerinin araştırılması
Synterices of Tb4O7,La2O3,Sm2O3 and Nd2O3 doped bi2o3 electrolyte materials and analysis of their structural and electrical properties
SEÇİL KARACA
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Fizik ve Fizik MühendisliğiErciyes ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MEHMET ARI
- Samaryum trioksit, gadolinyum trioksit ve evropiyum trioksit katkılı bizmut trioksit tabanlı elekrolit malzemelerin karakterizasyonu
Characterization of bismuth (III) oxide based solid electrolyte materials doped with samarium (III) oxide, gadolinium (III) oxide and europium (III) oxide
MURAT BALCI
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiErciyes ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MEHMET ARI