Geri Dön

Mikroelektronik uygulamalar için düşük sıcaklıklarda oksitlenme yöntemlerinin irdelenmesi

Başlık çevirisi mevcut değil.

  1. Tez No: 66212
  2. Yazar: RIFAT YENİDÜNYA
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. AYTEN KUNTMAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Oksitlenme, Oksitler, Oxidation, Oxides
  7. Yıl: 1997
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

ÖZET MİKROELEKTRONİK UYGULAMALAR İÇİN DÜŞÜK SICAKLIKLARDA OKSİTLEME YÖNTEMLERİNİN İRDELENMESİ Yarıiletken teknolojisinde oksit büyütme değişik yöntemlerle değişik amaçlar için yaygın olarak kullanılmaktadır. Kullanımının yaygınlığı nedeniyle bu çalışmada önce yüksek sıcaklıkta oksit büyütme yöntemleri incelendi. Bu yöntem kullanıldığında yeterince kalın oksit elde etmek silisyumun ancak yeterince uzun süre bekletmekle mümkün olmaktadır. Kalın oksit elde edilmesini zorlaştıran en önemli etki silisyum pul üzerindeki oksit tabakası kalınlaştıkça oksijenin difüzyonunun zorlaşmasıdır. Yüksek : sıcaklık uygulamaları ise daha önceden yapılmış katkılamaların üzerinde etkili olmaktadır. Daha da önemlisi yüksek sıcaklıkta oksit büyütme metalizasyon aşamasından sonra mümkün değildir. Metalizasyon aşamasından sonra CVD veya silisyum pulun üzerini oksit çözeltisi ile kaplama kullanılabilir. CVD yaygın olarak kullanılmasına rağmen cihazların karmaşıklığı ve de yüksek vakum ortamının elde edilmesinin uzun sürmesi nedeniyle sorunları olan bir tekniktir. Silisyum pulu oksit çözeltisi ile kaplama ise kullanılan maddeler nedeniyle oksit filmde çatlama ve karbon kirliliği olabilmektedir. Bu çalışmada oksit çözeltisi karbon kirliliği ve oksit filminin çatlama risklerini azaltacak şekilde hazırlanmış ve elde edilen oksit filminin karakterizasyonu yapılmıştır 42

Özet (Çeviri)

SUMMARY ANALYSIS OF LOW TEMPERATURE OXIDE GROWTH TECHNIQUES FOR MICROELECTRONICS APPLICATIONS Oxide growth in semiconductor inddustry used for different purposes, by using different techniques. Because of their wide use oxide growth techniques at high temperatures are discussed first. In order to have enough thick oxides by using this technique, the wafer should be kept in hot environment for a quite a long time. But oxygen diffusion through the oxide film gets more difficult with increasing oxide thickness. Besides high temperatures, also effect the diffusion profile and after metalization any kind of high temperature process is impossible. Techniques, which are used after metalization, are CVD or covering the wafer surface with oxide solution. Despite CVD is used widely, it has problems because of equipment complexity and required time for high vacuum. At the other hand covering the wafer surface with oxide solution generally suffers from cracks on oxide film and carbon contamination. In this work silicium wafer is coverd with silicide acide solution and then oxide characteristics are investigated. 43

Benzer Tezler

  1. Magnet teknolojisi için süper iletken şerit ve tellerin sol-jel tekniğiyle yalıtılması

    Insulation of super conducting tapes and wires by sol-gel technique for magnet technology

    ERDAL ÇELİK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2000

    Metalurji MühendisliğiSakarya Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EŞREF AVCI

  2. Mikrodalga ile kür edilmiş silikon içeren epoksi reçineler

    Microwave curing of siloxane containing epoxy resins

    MURAT KARADAYI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2001

    Kimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. NURSELİ UYANIK

  3. ATM networks and ATM switching architectures

    ATM (Asenkron transfer modu) ağları ve ATM seçici mimarileri

    TOLGA AÇIKÖZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrolİstanbul Teknik Üniversitesi

    Kontrol ve Bilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MEHMET BÜLENT ÖRENCİK

  4. Switching mode power supply and fly back converter design

    Başlık çevirisi yok

    ERKİN CÜCE

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektrik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EMİN TACER