X ışını spektrometresi ile kalınlık tayini
Thicness determination by an x ray spectrometr
- Tez No: 58073
- Danışmanlar: DOÇ.DR. YUSUF ŞAHİN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Altın, Alüminyum, Gümüş, Levhalar, Spektrometri, X ışını spektrometresi, Gold, Aluminum, Silver, Plates, Spectrometry, X ray spectrometer
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Atatürk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu tez çalışmasında, muhtelif kalınlıklı Al, Ag, Au levha (foil) numunelerin kalınlıkları x-ışını geçiş (transmission) tekniği kullanılarak spektrometrik metotla deneysel olarak bulunmuştur. Radyoaktif Am-241 nokta ve halka kaynaklardan yayınlanan 5.9 keVluk gama fotonlan uygun geometrilerde muhtelif kalınlıklı numuneler üzerine düşürülerek numuneden geçen ve çıkan fotonlarm spektrumlan elde edilmiştir. Havadan ve numune tutucularından saçılma ve temel sayma (background) katkısını tayin etmek için numunesiz ölçümler alınmıştır. Bu ölçümlerde 5.9 keVde yan maksimumdaki tam genişliği 160 eV olan bir Si(Li) dedektörü ile bağlantılı olan ND 66B çok kanallı analizör ve diğer elektronik sistemler kullanılmıştır. Spektrometrik olarak bulunan kalınlıkların şiddete, mikrometre ve tartma yoluyla bulunan kalınlıklara karşı korelasyon grafikleri çizilmiştir. Bu grafiklerden bunlar arasında iyi bir korelasyon olduğu görülmüştür.
Özet (Çeviri)
The thicknesses of the various foils of Al, Ag, Au have been determinated with the transmission technique using an x-ray spectrometry. Transmitted and scattered photon of gamma rays radiated from an Am-241 point source and an Am-241 annular source have been counted together with the characteristic photon of the substrate and coating (covered materials) in a suitable geometry. To determinate the contributions of the background and scatterings from sample holder and wheather, measurement without sample have been performed. For the counting process, Si(Li) detector whose full width at half maximum (FWHM) is 160 eV at 59.5 keV coupled to an ND 66B multichannel analyser and the other electronical systems were used. Thicknesses experimentally determined with the transmission technique have been plotted versus intensity, thicknesses determined gravimetrically and measured with a micrometer. Besides, it is seen from these plots there are a good correlations between the measured intensity and the thicknesses of the samples determined from the transmission measurement by a gravimetric method and directly measured by a micrometer.
Benzer Tezler
- X-ışını spektrometresiyle mukayaseli kalınlık tayini
Comparative thicness determinations by X-ray spectrometer
NESLİHAN EKİNCİ
Doktora
Türkçe
2000
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. YUSUF ŞAHİN
- Kızılötesi ışınları algılayan kristal germanyum filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu
Synthesis and characterization of infrared detecting thin films
CENGİZ BİRLİKSEVEN
Yüksek Lisans
Türkçe
1996
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ.DR. H. ZAFER DURUSOY
- Türkiye'de yetişen bazı farmasotik bitkilerin x-ışınları floresans emisyon transmisyon tekniği ile incelenmesi
Investigation of some pharmaceutical herbs growing in Turkey by the x-ray fluorescence emission-transmission (E-T) technique
NURETTİN EFE
- Characterization of biaxially oriented polypropylene films
Başlık çevirisi yok
ZEYNEP SARAÇ
Yüksek Lisans
İngilizce
1994
KimyaBoğaziçi ÜniversitesiKimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. IVET BAHAR
- Bazı elementlerin M tabakası x-ışınlarının üretim tesir kesiti ve açısal dağılımlarının enerji ayırımlı x-ışını spektrometresi ile ölçülmesi
Başlık çevirisi yok
MEHMET ŞAHİN
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. LÜTFÜ DEMİR