Geri Dön

Yarı iletken altlık üzerine InGaP nanofiberlerin üretimi ve karakterizasyonu

Effect of layer thickness on i-v characteristics of InGaP nanofibers fabricated by electrospinning on N-Si substrates

  1. Tez No: 572291
  2. Yazar: HAKAN OKÇU
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. NALAN ÇİÇEK BEZİR
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2019
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Süleyman Demirel Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

InGaP nano lifleri ilk olarak n-Si substratları üzerinde, sabit voltaj (25 kV), yükseklik (6 cm) ve akış hızı (0.3 mL / s) ve farklı işlem sürelerinde (10, 20, 25 dakika) uygulanan elektrospinleme yöntemiyle oluşturulmuştur. Hazırlanan numunelerin karakterizasyonu, X-ışını difraksiyonu (XRD), diferansiyel taramalı kalorimetre / termal gravimetrik analiz (DSC / TGA), Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve enerji dağıtıcı X-ışını spektrometresi (EDX) ile yapıldı. Ayrıca, InGaP / n-Si örneklerinin akım-gerilim ölçümleri yapılmıştır. Elde edilen sonuçlar, üç kalınlıkta InGaP katmanı ile üretilen tüm InGaP / n-Si örneklerinin I-V özelliklerinin, teori ile iyi bir uyum içinde olduklarını ve aynı zamanda rektifiye edici özellikler sergilediklerini göstermiştir.

Özet (Çeviri)

InGaP nanofibers were firstly formed on n-Si substrates by electrospinning method applying constant voltage (25 kV), height (6 cm), and flow rate (0.3 mL/h) and at different process times (10, 20, 25 minutes). Characterization of the prepared samples was performed by X-ray diffraction (XRD), the differential scanning calorimetry/the thermal gravimetric analysis (DSC/TGA), Scanning electron microscopy (SEM), and energy dispersive X-ray spectrometer (EDX). Furthermore, the current-voltage measurements of the InGaP/n-Si samples have been carried out. The obtained results have shown that I-V characteristics of all the InGaP/n-Si samples fabricated with three thicknesses of InGaP layers are rather in a good agreement with the theory and that they also have exhibited rectifying properties.

Benzer Tezler

  1. Fotovoltaik uygulamalarda kullanılmak üzere elektro-kimyasal biriktirme yöntemi ile üretilen yarıiletken zns ince filmlerin karakterizasyonu

    Characterization of semiconductor ZnS thin films produced by electro-chemical deposition method for photovoltaic applications

    ESRA ERTÜRK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    EnerjiTekirdağ Namık Kemal Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HAFIZ ALİSOY

  2. Katodik ark plazma işlemi ile CrSi2 yarıiletken filmlerin üretimi

    CrSi2 semiconductor film production via cathodic arc plasma deposition

    BERİL KOZÇAZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUSTAFA ÜRGEN

  3. Anataz fazının titanyum diskler üzerinde hidrotermal işlemle büyütülmesi

    Growing anatase phase on titanium disks by hydrothermal process

    MEHMET YENAL YALÇINKAYA

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    KimyaGebze Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. KORAY ÖZTÜRK

  4. Sünger yapılı ZnO seramik fotokatalizör üretimi ve fotokatalitik aktivite incelemesi

    Production of ZnO ceramic foam catalyst and examining of photocatalytic activity

    MEMNUNE DAĞLAR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2016

    Çevre MühendisliğiGebze Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. KORAY ÖZTÜRK

  5. Production of diamond-like carbon films and modelling of piezoresistance/optical properties

    Elmas benzeri karbon filmlerin üretimi ve piezodirenç/optik özelliklerinin modellenmesi

    ERAY HUMALI

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2025

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUHAMMET KÜRŞAT KAZMANLI