Difraksiyonun geometrik teorisi ile reflektör anten analizi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 55097
- Danışmanlar: Y.DOÇ.DR. CEM NAKIBOĞLU
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Yansıma noktası, difraksiyon noktası, geometrik optik metodu, difraksiyonun geometrik teorisi, GTD, reflektör antenler, Anten, Kırınım, Yansıtıcılar, Reflection point, diffraction point, geometrical optics method, geometrical theory of diffraction, GTD, Antenna, Diffraction, Reflectors
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET Yüksek frekans asimtotik teknikleri elektromanyetik problemlerin çözümünde kullanılabilen metodlardır. Bu çalışmada Fermat prensibi kullanılarak z=f(x,y) formunda verilen keyfi olarak seçilmiş bir yüzey üzerindeki yansıma rrcrktasr ve difraksiyon noktası bulunmuştur. Yansıma noktasını iraîmak için yüzey nelirli bir sınır içinde alt bölgelere böHhrmtrş ve her bir alt bölgede yansıma noktası aranırken nümerik metodlar kufranıhnrştrr. Daha sonra yansıma noktasındaki yansıyaır ve kınlan elektrik ve manyetik alanlar ile difraksiyon noktası ve herhangi hir gözlem noktasındaki elektrik ve manyetik alanlar bir ışın boyunca hesaplanmıştır. Bu alanları hesaplamak için geometrik optik metodu kullanılmıştır ve sonuçlar difraksiyonun geometrik teorisi uygulanarak iyileştirilmiştir. Bu çalışmanın sonucunda bir program geliştirilmiş ve bu metod keyfi olarak seçilen yüzeylere uygulanmıştır.
Özet (Çeviri)
m ABSTRACT High frequency asymptotic techniques are methods which can be used to solve electromagnetic problems. In this study, the diffraction and reflection point on a surface which is arbitrarily chosen in the form of z=f(x,y) hras been- found by using the Fermat's principle. In order to find the reflection point, the surface is divided into subregions within a certain boundary and the numerical methods are used to searcii for a reflection point in each subregion. Then the reflected and transmitted- electric anrd magnetic fieids at the reflection point, the diffraction -point and the electric and magnetic fields at an observation ptnnt are calculated along a ray. Geometrical optics method is used to calculate tnis fields and the results are improved by applying geometrical theory of diffraction. As a result of this study software has been developed and the method is applied to arbitrarily chosen surfaces.
Benzer Tezler
- Sert seramik kaplı malzemelerde kaplama tabakası-taban malzeme arayüzeyinin x- ışınları ince film tekniği ile karakterizasyonu
Başlık çevirisi yok
UĞUR DEMİRLER
- Hızlı katılaştırma ile üretilen Al-Ni alaşımının yapı, fiziksel ve mekanik özelliklerinin incelenmesi
Rapidly solidified of Al-Ni alloys by the melt-spinning method and investigate on physical and mechanic properties
MUSA GÖĞEBAKAN
- X-ışınları difraksiyonu ile C20H19O7N'nin kristal yapısının araştırılması
Investigation of the crystal structure of C20 H19 O7 N by x-ray diffraction method
SAİT YILMAZ
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
Fizik ve Fizik MühendisliğiErciyes ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. AYHAN GÜLDESTE
- X-Işınları difraksiyonu ile 2-hidroksifenil 4-metoksi stirilketon'un kristal yapı analizi
Başlık çevirisi yok
SERTAÇ EROĞLU
- Sr katkılı kurşun zirkonat titanat tipi piezoseramiklerin x ışınları difraksiyonu ve taramalı elektron mikroskobu ile karakterizasyonu
Başlık çevirisi yok
KORAY KARAKAYA
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ADNAN TEKİN