Tek katlı ince palladyum filmlerinin özdirencine film kalınlığı ve sıcaklığın etkileri
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 50623
- Danışmanlar: DOÇ.DR. NURCAN ARTUNÇ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Tanecik-sınır saçılması, elektriksel özdirenç, Palladyum, Öz direnç, İnce filmler, Grain-boundary scattering, electrical resistivity, Palladium, Resistivity, Thin films
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Ege Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
IV ÖZET TEK KATLI İNCE PALLADYUM FÎLMLERÎN ÖZDÎRENCÎNE FÎLM KALINLI?I VE SICAKLI?IN ETKlLERÎ TÜTÜNCÜ, Şerife Yüksek Lisans Tezi, Fizik Bölümü Tez Yöneticisi: Doç.Dr.Nurcan Artunç Temmuz 1996, 44 sayfa Bu çalışmada, 100-300 K sıcaklık aralığında, kalınlıkları 6.7-56.5 nm arasında değişen tek katlı polikristal palladyum filmlerin özdirencinin film kalınlığına ve sıcaklığa bağlı değişimi incelenmiştir. Ölçüm sonuçlan, Pd film örneklerin özdirencinin sıcaklıkla ve azalan film kalınlığı ile arttığını ortaya koymuştur. Özdirenç verileri Mayadas-Shatzkes'in tanecik-sınır saçılma modeli ile analizlenmiştir. Analiz sonuçlarından, çalışılan tüm sıcaklık ve film kalınlığı aralığı için, tanecik sınırlarından saçılan elektronların ortalama yansıma katsayısı değeri R=0.81 olarak hesaplanmıştır. Elektronların ortalama yansıma katsayısının deneysel değeri ise R=0.80 olarak bulunmuştur.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT THE EFFECTS OF FILM THICKNESS AND TEMPERATURE ON THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF SINGLE-LAYERED THIN PALLADIUM FILMS TÜTÜNCÜ, Şerife Thesis of MSc in Science Supervisor: Assoc. Prof. Dr. Nurcan Artunç July 1996, 44 pages The temperature and thickness dependence of the electrical resistivity of the single-layered palladium films of which have thicknesses of 6.7-56.5 nm is studied in the temperature range from 100 to 300 K. The resistivity measurements have shown that the electrical resistivity of Pd films increases with both temperature and decreasing film thickness. The resistivity data have been analysed solely in terms of grain-boundary scattering model of Mayadas and Shatzkes. From our analysis, the average reflection coefficient R of the electrons scattered by the grain boundaries is derived to be 0.81 over the whole temperature and thickness range studied. It is found an experimental value of reflection coefficient R=0.80.
Benzer Tezler
- Çok katlı metalik ince filmlerin magnetik özelliklerinin belirlenmesi
Determination of magnetik properties of multilayer thin films
CENGİZ BİRLİKSEVEN
Doktora
Türkçe
2000
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. H. ZAFER DURUSOY
- Hava-yansıtma yapmayan çok katlı kaplama-cam'dan oluşan sistemlerin optik özellikleri ve modellenmesi
Optical properties of modelling of the synthesis of antireflection multilayer coating
METİN CANDEMİR
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇukurova ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. KERİM KIYMAÇ
- Çift katlı ipliklerin mekanik özelliklerinin tek katlı ipliklerle karşılaştırmalı olarak incelenmesi
Başlık çevirisi yok
AYŞE KARAKOR OKUR
Doktora
Türkçe
1990
Tekstil ve Tekstil MühendisliğiEge ÜniversitesiTekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÜNGÖR BAŞER
- Tek katlı prefabrik sanayi yapılarının karşılaştırılması ve bir sistem önerisi
Comparison of single storey precast reinforced concrete industrial buildings and proposition a system
MEHMET YAVUZ
- Akustik kitle dalga esasına dayanan rezonatörlerin analizi ve tasarımı
Analysis and design of acoustic bulk wave resonators
EMİR TUFAN
Yüksek Lisans
Türkçe
1993
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF.DR. ERGÜL AKÇAKAYA