Geri Dön

Dijital lojik bellek yapılarının fonksiyonel analizi

Başlık çevirisi mevcut değil.

  1. Tez No: 38789
  2. Yazar: GÜLHAN BENLİ
  3. Danışmanlar: PROF.DR. FEVZİ ÜNLÜ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Matematik, Mathematics
  6. Anahtar Kelimeler: Fonksiyonel analiz, Lojik devre, Sayısal mantık, Functional analysis, logic circuit, Digital logic
  7. Yıl: 1995
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Ege Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

ÖZET Bu çalışmanın birinci bölümünde Dijital lojik kaplarına ilişkin temel tanımlar verilmiştir. İkinci bölümde Ardaşık (combinatonal) dijital lojik devreler ve ardaşık (sequential) olmayan dijital lojik devreleri matematiksel olarak en genel şekilde tanımlanmıştır. Üçüncü bölümde, FIip-FIop kavramını matematiksel olarak tanımladıktan sonra Flip-Flop'ların özellikleri incelenmiştir. Son bölümde, önceki bölümlerde verilen bilgilerin aracılığı ile ardaşık devre ve sayaç tasarımı yapılmıştır. 39

Özet (Çeviri)

SUMMARY In the first section, definition of digital logic gates have been given. In the second section, the Combinational digital logic circuits and the sequential digital logic circuits have been defined with mathematical notations. In the thirth section, after the Flip-Flops definition have been given, the pecularity of the Flip-Flops have been examined. In the last section, the combinational digital logic circuits and the counter design have been carried out by the means of given knowledge in the previous chapter. 40

Benzer Tezler

  1. Çok düzeyli statik bellek gözesi ve kohonen türü yapay sinir ağına uygulanması

    Multiple valued static storage cell and its application to kohonen type neural network

    NURETTİN YAMAN ÖZELÇİ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1999

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. UĞUR ÇİLİNGİROĞLU

  2. A Novel competitive learning algorithm implementation

    Başlık çevirisi yok

    ERCAN KAYGUSUZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1996

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. UĞUR ÇİLİNGİROĞLU

  3. IEEE 1149.1 standardı kullanarak test edilebilir lojik devre tasarımı

    Testable lojik circit design by using IEEE 1149.1 standard

    A.BETÜL TUNCER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. AHMET DERVİŞOĞLU