Physical inspection of the transistor matching parameters for IC differential amplifier applications

Benzer Tezler

1. Tez No

   384940

   A 16-b 32 MSPS CMOS voltage output DAC in 0.18 um with 80+ dB simulated SFDR at 1 MHz output frequency

   1 MHz çıkış frekansında 80+ dB SFDR başarımı elde eden 0.18 um 16-b 32 MSPS CMOS gerilim çıkışlı sayısal-analog çevirici tasarımı

   ÇAĞLAR ÖZDAĞ

   Yüksek Lisans

   

   İngilizce

   2015

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

   DOÇ. DR. TÜRKER KÜYEL

2. Tez No

   556920

   Endüstri 4.0 çerçevesinde kestirimci imalat teknolojileri

   Predictive manufacturing technologies in industry 4.0 framework

   KADİR TOLGA BAYER

   Yüksek Lisans

   

   Türkçe

   2019

   Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

   DOÇ. DR. TURGUT GÜLMEZ

3. Tez No

   512340

   The behoavioral modeling and an application of SAR ADC

   SAR ADC'nin davranışsal modeli ve uygulaması

   MERİÇ ECE ZEDELİ

   Yüksek Lisans

   

   İngilizce

   2018

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

   PROF. DR. ALİ TOKER

4. Tez No

   100744

   Mos tranzistorlarda kanal katkılama yönteminin oksit ve arayüzey tuzakları üzerine etkisi

   The Channel doping method's effect on oxide and interface traps in mos transistors

   ENGİN KONUR

   Doktora

   

   Türkçe

   1999

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   PROF.DR. UĞUR ÇİLİNGİROĞLU

5. Tez No

   297842

   Aging in CMOS circuits and circuit design robust to aging phenomena

   CMOS devrelerde yaşlanma ve yaşlanmaya dayanıklı devre tasarımı

   ENGİN AFACAN

   Yüksek Lisans

   

   İngilizce

   2011

   Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

   Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

   YRD. DOÇ. DR. İSMAİL FAİK BAŞKAYA