ZnO ince film örneklerinde optik ve XRF parametrelerinin incelenmesi
Investigation of optical and XRF parameters at ZnO thin film samples
- Tez No: 301774
- Danışmanlar: DOÇ. DR. HASAN BALTAŞ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: İnce film, XRF, Floresans tesir kesiti, Kß/K? şiddet oranları, Thin film, XRF, Flourescence cross-section, Kß-to- K? X-ray intensity ratios
- Yıl: 2012
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Rize Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu çalışmada, farklı sıcaklıklarda tavlanmış ZnO ince film örnekleri döndürme kaplamayla ilişkili sol-jel tekniği kullanılarak cam altlıklar üzerine büyütüldü. İnce film örneklerinin yapısal ve optik özellikleri X-ışını kırınım analizi (XRD) ve UV-Vis ile belirlendi. Amorf yapıdan polikristal yapıya geçişi en iyi 500 0C tavlama sıcaklığında gözlemlendi. Ayrıca, örneklerin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri gibi XRF parametreleri belirlendi. XRF ( X-ışını floresans) parametreleri ölçümü için örnekler aktivitesi 10 mCi olan Am-241 kaynağıyla uyarılmıştır. Örneklerden yayımlanan K X-ışınları 5.9 keV'de çözünürlüğü 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. ZnO ince film örneklerindeki Zn elementinin Kß/K? şiddet oranları ve K kabuğu floresans tesir kesitleri, ısıl tavlama sıcaklığının artmasının etkisine bağlı olarak değişti. Ölçülen değerler saf Zn elementinin literatürde hesaplanmış olan teorik ve deneysel değerleriyle karşılaştırıldı.
Özet (Çeviri)
In this study, ZnO thin film samples thermally annealed at different temperatures were grown on glass substrate by sol-gel technique associated with spin coating. Structural and optical characterizations have been carried out by using X-ray diffraction (XRD) and ultraviolet- visible (UV-Vis). The phase transition from amorphous to polycrystalline hexagonal wurtzite structure was observed the best at annealing temperature of 500 0C. Also, X-ray flourescence (XRF) parameters of samples such as Kß-to-K? X-ray intensity ratios and K shell fluorescence cross-sections were determined. The samples for XRF parameters measurement were excited by 59.5 keV X-rays from a 10 mCi 241Am annular radioactive point source. K X-rays emitted by samples were counted by an Ultra-LEGe detector with a resolution of 150 eV at 5.9 keV. Kß-to-K? X-ray intensity ratios and K shell fluorescence cross-sections of Zn element at ZnO thin film samples have changed depending on influence of increasing heat annealing treatment. The measured values have been compared with the theoretical predictions and experimental values of pure Zn element.
Benzer Tezler
- Co katkılı ZnO seyreltik manyetik ince filmlerin sentezi ve fiziksel özellikleri
Synthesis and physical properties of Co doped ZnO diluted magnetic thin films
MUSA MUTLU CAN
Doktora
Türkçe
2011
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TEZER FIRAT
- p-Si, GaAs ve ge alttaşlar üzerine Al:ZnO filmlerin büyütülmesi; yapısal, optik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi
The deposition of Al:ZnO films on p-Si, GaAs and ge substrates: The investigation of structural, optical and electrical properties
GÜRKAN KURTULUŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2014
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ERGÜN KASAP
- Çinko-oksit (ZnO) ince filmlerin sentezlenmesi ve fotovoltaik özelliklerinin incelenmesi
Synthesis and investigation of photovoltaic properties of zinc-oxide thin films
AHMET MUHAMMED AKBAŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
EnerjiHacettepe ÜniversitesiNanoteknoloji ve Nanotıp Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN
- Bazı tek ve çok katmanlı ince film yapıların X-ışını saçılma ve X-ışını kırınımı yöntemleri ile incelenmesi
Structural investigation of some mono and multilayer thin films by X-ray scattering and X-ray diffraction methods
URAL KAZAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEMRA İDE
- Zn tabanlı heteroeklemlerin kapasitans-voltaj karakterizasyonu
Capacitance-voltage characterization of Zn based heterojunctions
AYDIN YILDIRIMLAR
Yüksek Lisans
Türkçe
2013
Fizik ve Fizik MühendisliğiMehmet Akif Ersoy ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. TAYYAR GÜNGÖR