Kalın bir taşıyıcı üzerindeki soğurucu ince filmlerin optik özelliklerinin belirlenmesi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 24829
- Danışmanlar: DOÇ. DR. NEVZAT KAVCAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Elipsometri, Optik özellikler, İnce filmler, Ellipsometry, Optical properties, Thin films
- Yıl: 1992
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Cumhuriyet Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET Bu çalışmada iki katlı film sistemleri olan CuO/Au, CuO/Ag, In/Al ve Ag/Cu lara ait elipsometrik parametrelerden yararlanılarak, üst katman olarak yer alan filmlerin n kırılma indisleri, k sönüm katsayı ları ve d kalınlıkları yaptığımız bir komputür prog ramıyla hesaplanıp, n ve k değerlerinin kullanılan ışığın dalgaboyu ve film kalınlığıyla değişimleri incelendi. Isısal buharlaştırma yöntemiyle, önce alt ta şıyıcılar olan Ag, Al, Au ve Cu kalın filmler cam ü- z er in e hazırlanarak bunların üzerine yine aynı yön temle CuO, Ag ve in ince filmleri kaplandı. Kalın ör neklere ait elipsometrik parametrelerden elde edilen alt metal indisleri ve iki katlı film sistemine ait elipsometrik parametreler yardımıyla üst katman olan ince filmlere ait optik sabitler ve kalınlıklar BASIC programlama dilinde yazılan bir programla, iterasyon tekniği kullanılarak hesaplandı. Sonuçlar çizelge ve grafiklerle verildi.
Özet (Çeviri)
II SUMMARY In this study, by using the experimental ellipso- metric parameters of CuO/Au, CuO/Ag, In/Al, Ag/Cu two layered film systems, the optical constants, n, k and d of the upper layer are calculated by a computer program we prepared and employed. The changing of n, k versus the wavelenght of light, and film thickness are investigated. Ag, Al, Au, Cu thick film samples have been condensed on glass substrates by the method of thermal evaporation and then CuO, Ag, and In thin films of different thicknesses have been covered on these thick layers by the same method. By using the optical constants of the thick underlying films, and ellipsometric para meters of the two layered systems n, k, and d of the thin upper layer have been calculated by an iteration technique written in BASIC language. The results have been presented in tables and graphics.
Benzer Tezler
- General fractal dimensions and intermittency in coupled map lattices
Eşlenmiş tasuir örgülerde genelleştirilmiş fraktal boyutlar ve kesiklilik
AYŞE GORBON
- Oksprenolol HCI` ün transdermal formülasyonlarının hazırlanması üzerinde çalışmalar
Başlık çevirisi yok
YEŞİM BOLGÜL
- Yüksek binalarda tübüler taşıyıcı sistemler ve uygulama örnekleri
Başlık çevirisi yok
İ.TÜRKER BEYAZOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
MimarlıkMimar Sinan Güzel Sanatlar ÜniversitesiMimarlık Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. AYDAN ÖZGEN
- Türkiye'de üretilen toplu konutlarda taşıyıcı sistem uygulamasındaki farklılıkların analizi
Başlık çevirisi yok
M.SELİM DALAMAN
Yüksek Lisans
Türkçe
1994
MimarlıkYıldız Teknik ÜniversitesiMimarlık Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. NAFİZ ÇAMLIBEL
- Postmenapozal transdermal östrojen replasman tedavilerinin serum nitrik oksit, HDL subfraksiyonları ve apolipoprotein Al ve apolipoprotein B düzeylerine etkisi
The Effect of transdermal estrogen replacement theraphies on serum nitric oxide, HDL subfractions and apolipoprotein Al and apoliporotein B levels
HİLAL BALCI
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
1999
Kadın Hastalıkları ve DoğumDokuz Eylül ÜniversitesiKadın Hastalıkları ve Doğum Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BERRİN ACAR
