MnS, ZnO ve SnO2 ince filmlerin elektronik yapısının x-ışını soğurma spektroskopisi ile incelenmesi
The electronic structure investigation of MnS, ZnO and SnO2 thin films by x-rat absorption spectroscopy
- Tez No: 198150
- Danışmanlar: PROF.DR. YÜKSEL UFUKTEPE
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Elektronik yapi, XAFS, EXAFS, XANES, Electronic Structure, XAFS, EXAFS, XANES
- Yıl: 2006
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Çukurova Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZDOKTORA TEZIMnS, ZnO VE SnO2 INCE FILMLERIN ELEKTRONIK YAPISININX-ISINI SOGURMA SPEKTROSKOPISI ILE INCELENMESIOsman Murat ÖZKENDIRÇUKUROVA ÜNIVERSITESIFEN BILIMLERI ENSTITÜSÜFIZIK ANABILIM DALIDanisman: Prof.Dr. Yüksel UFUKTEPEYil : 2006, 107 SayfaJüri : Prof. Dr. Yüksel UFUKTEPEProf. Dr .Metin ÖZDEMIRProf. Dr. Ramazan ESENProf. Dr. Adnan KÜÇÜKÖNDERDoç.Dr. Bilgehan GÜZELBu çalismanin amaci, çesitli metalik ince filmlerin yapisal ve elektroniközelliklerinin spektroskopik yöntemlerle incelenmesidir. Bazi 3d metallerinin farkliözelliklerdeki bilesikleri ile ilgili hesaplar FEFF 8.0 programiyla hesaplandi vedeneysel sonuçlarla kiyaslandi. X-isinlari sogurma temelindeki hesaplamalar çokluelektron saçilmasi ile yapildi. Çesitli yöntemlerle elde edilen MnS, ZnO, SnO2 v.b.metalik ince filmlerin elektronik yapisi XAFS (X-ray Absorption Fine StructureSpectroscopy) yöntemiyle belirlendi. Hesaplamalardan elde edilen sonuçlar deneyselverilerle uyumludur.
Özet (Çeviri)
ABSTRACTPhD THESISTHE ELECTRONIC STRUCTURE INVESTIGATION OF MnS,ZnO AND SnO2 THIN FILMS BY X-RAY ABSORPTIONSPECTROSCOPYOsman Murat ÖZKENDIRDEPARTMENT OF PHYSICSINSTITUTE OF NATURAL AND APPLIED SCIENCESUNIVERSITY OF CUKUROVASupervisor : Prof. Dr. Yüksel UFUKTEPEYear : 2006, 107 Pages:Jury : Prof. Dr.Yüksel UFUKTEPEProf. Dr.Metin ÖZDEMIRProf. Dr. Ramazan ESENProf. Dr. Adnan KÜÇÜKÖNDERAssoc.. Prof. Dr. Bilgehan GÜZELThe aim of this study is to investigate the structural and electronic propertiesof metallic thin films by XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) spectroscopy.Some of different types of 3d metallic compounds are calculated with using theXAFS computer code FEFF 8.0 and compared with the experimental results.Calculations are based on multiple scattering process of photoelectrons. Electronicstructure investigations of the thin films of 3d metallic compounds are calculatedwith XANES method and structural investigations are calculated with EXAFSmethod of XAFS spectroscopy. Calculations are agree with the experimental results.
Benzer Tezler
- Synthesis of Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn sulfides by solid-gas reactions, investigation of structural and conducting properties
Katı-gas tepkimeleri ile Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn sülfür bileşiklerinin sentezi, yapısı ve iletkenlik özelliklerinin incelenmesi
MUSTAFA FATİH GENİŞEL
Yüksek Lisans
İngilizce
2005
KimyaOrta Doğu Teknik ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. AYŞEN YILMAZ
- Kimyasal depolama yöntemi ile MnS ince filmlerin eldesi ve karekterizasyonu
Preparation and characterization of MnS thin films by chemical bath deposition
CEMAL ULUTAŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2004
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇukurova ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. CEBRAİL GÜMÜŞ
- Handovers in wireless overlay networks
Kablosuz üstüne bindirmeli ağlarda eldeğiştirmeler
MELTEM YILDIRIM
Yüksek Lisans
İngilizce
2006
Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolBoğaziçi ÜniversitesiBilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. FATİH ALAGÖZ
- Behaviour of short fatigue cracks in a steel with elongated inclusions
Kısa yorulma çatlaklarının içinde uzatılmış kalıntılar bulunan bir çelikteki davranışları
CEVDET KAYNAK
Doktora
İngilizce
1994
Metalurji MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiMetalurji Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ALPAY ANKARA