TiO2 ince filmlerinin optik parametrelerinin tayini
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 1773
- Danışmanlar: DOÇ.DR. ÜLKÜ CANTÜRK
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Film, Spektrofotometrik tayin, Titanyum dioksit, İnce filmler, Film, Spectrophotometric determination, Titanium dioxide, Thin films
- Yıl: 1985
- Dil: Türkçe
- Üniversite: İstanbul Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET Bu çalışmada Ti02 filmlerinin optik sabitleri incelen di. Bu filmler yüksek vakumda çıplak cam ve Ag kaplı cam ta şıyıcılar üzerine hazırlandı. Bu filmlerini ve 'Vp elipsometrik parametreleri, elip- sometre ile tayin edildi, ve spektrofotometre ile filmlerin geçirgenlikleri ölçüldü. Filmlerin kalınlıkları, kırılma indisleri ve söndürme indisleri, elipsometrik parametreler yardımıyla kompüter tekniği ile hesaplandı. Bu, kalınlık tayini için orijinal bir metottur. Film kalınlıkları 28 £-71 S arasındadır. Kırılma indisi 4.000 S dalga boyu civarında 3~4- ve 5700 S. dalga boyu civarında ise 6-7,5 değerlerini al dı. 5-000 S'lük dalga boyunda minimum gözlendi. Kırılma indisi ve söndürme indisinin dalga boyuna gö re değişimi verildi. Elipsometrik ölçümlerle spektrofotometrik ölçümler uyum sağladı.
Özet (Çeviri)
SUMMARY In this study, optical constants of thin films of TiO~ have been investigated. These films were deposited on bare glass and Ag covered glass substrates in high vacuum. Ellipsometric parameters A. and“Vp of these films were determined by ellipsometer and also transmission of these films were measured by spectrophotometer. The thicknesses and refractive indices and extinction coefficients of these films were determined from ellipso metric parameters by computer technic. This is an original method to determine the thickness. The thickness of these films were between 28 £-71 &. Refractive index values were approximately 5-4- at 4.000 % on the other side 6-7,5 at 5700 % wavelength. It was minimum at 5«000 İÜ. The depence of the wavelength of refractive index and extinction coefficient had been given. Ellipsometric measuremeöt agreed ”with the spectrophometidc values.
Benzer Tezler
- CeO2-TiO2(CeO2-ZrO2) ince filmlerinin oluşturulması, optik yapısal ve bazı elektrokimyasal özelliklerinin incelenmesi
Preparation and investigation of optical, structural and some electrochemical properties of CeO2-TiO2(CeO2-ZrO2) thin films
FARHAD E GHODSİ
- TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of TiO2 and doped TiO2 thin films
İBRAHİM TÜRHAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2000
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF.DR. G. GALİP TEPEHAN
- ZrO2-TiO2 ince filmlerinin oluşturulması ve karakterizasyonu
Preparation and characterization of ZrO2-TiO2 thin films
SEMA TIĞLI
- Sol-gel yöntemi ile hazırlanan katkılı V205 filmlerinin optik özelliklerinin incelenmesi
Optical properties of sol-gel deposited binary V205/Ti02 films
SAWSAN A.AHMAD
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TANER BOLAT
- Determination of thermal optical properties of TiO2 and ZrO2 films and their fiber optic temperature sensor application
TiO2 ve ZrO2 filmlerin termal optik özelliklerinin belirlenmesi ve bunların fiber optik ısı algılayıcısı uygulamaları
GÜLTEKİN GÜLŞEN
Doktora
İngilizce
1999
Fizik ve Fizik MühendisliğiBoğaziçi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. M. NACİ İNCİ