Geri Dön

Enerji dağınımlı X-ışını floresans (EDXRF) ile bileşiklerdeki kimyasal kaymanın incelenmesi

Investigation of the chemical shift in compounds by means of energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF)

  1. Tez No: 170316
  2. Yazar: YAKUP KALAYCI
  3. Danışmanlar: PROF.DR. HALUK MUTLU
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: .-Maşım etkisi, Ni-Si alaşımları, X-ışını floresansı verimi, şiddet oranı, tesir kesiti, Alloying effect. Ni-Si alloys, X-ray fluorescence yield, intensity ratio, cross-section
  7. Yıl: 2005
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Ankara Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

ÖZET Doktora Tezi ENERJİ DAĞINIMLI X-ISIXI FLORESANS (EDXRF) İLE BİLEŞİKLERDEKİ KİMYASAL KAYMANIN İNCELENMESİ Yakup KALAYCI Ankara Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Mühendisliği Anabilim Dalı Danışman: Prof. Dr. Haluk MUTLU Bu çalışmada enerji dağılımı X-ışını floresansı (EDXRP) yardımıyla Ni-Si ikili sisteminde alaşım etkisinin nikelin K-kabuğu floresans veriminde, Kp/K" şiddet oranında ve tesir kesitinde düştürdüğü etkiler incelenmiştir. Sonuçlar, bazı Ni-Si alaşımları için mevcut elektronik yapı hesaplamalarından elde edilen sonuçlar, Ni'nin 3d-elektronik şekillenimi cinsinden tartışılmıştır. 2005, 44 sayfa

Özet (Çeviri)

ABSTRACT Ph. D. Thesis INVESTIGATION OF THE CHEMICAL SHIFT IN COMPOUNDS BY MEANS OF ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE (EDXRF) Yakup KALAYCI Ankara University Graduate School of Natural and Applied Sciences Department of Physics Engineering Supervisor: Prof. Dr. Haluk MUTLU In this work, influence of alloying effect on nickel K-shell fluorescence yield, Kp/Ka intensity ratio and cross-section are investigated in Ni-Si binary system by means of energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF). The results were discussed in terms of the 3d-electronic configuration of Ni obtained from electronic structure calculations for some Ni-Si alloys. 2005, 44 pages

Benzer Tezler

  1. Enerji dispersiv x-ışını floresans analizinde şiddetlendirme etkisi

    Başlık çevirisi yok

    ENGİN TIRAŞOĞLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1994

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HASAN ERDOĞAN

  2. Enerji dağılımlı x-ışını floresans spektrometresi ile demir ve fındık numunelerinin analizi

    Başlık çevirisi yok

    METİN BAL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1996

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOndokuz Mayıs Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NAZMİ OKUMUŞOĞLU

  3. Türkiye'de yetişen bazı farmasotik bitkilerin x-ışınları floresans emisyon transmisyon tekniği ile incelenmesi

    Investigation of some pharmaceutical herbs growing in Turkey by the x-ray fluorescence emission-transmission (E-T) technique

    NURETTİN EFE

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1996

    KimyaAnkara Üniversitesi

    DOÇ. DR. HAMZA YILMAZ

  4. X-ışını floresans spektrometrisi tekniği ile Menderes masifi üzerinde üretilen feldspat cevherlerinin eser element analizleri

    X-ray fluorescence trace analysis of feldspar ores produced in Menderes massive

    MUSTAFA KARAMAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2009

    KimyaAdnan Menderes Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. A. ERSİN KARAGÖZLER