Mikroişleyicili düzeltmeli dielektrik katsayısı ölçüm sistemi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 1469
- Danışmanlar: PROF. DR. KEMAL ÖZMEHMET
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 1987
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Hacettepe Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
îii ÖZET Dielektrik katsayısı maddelerin özelliklerinin anlaşılmasında kullanılan önemli parametrelerden bir tanesidir. Dielektrik katsayısının ayrıca ile tişim ve optik teknolojisinde birçok elemanının yapımında (rezonator; ışın bölücü, lens vs.) bilinmesi gerekir. Bütün bu işlemler için dielektrik katsayısının çok hassas bir şekilde öl çülmesi gerekmektedir. Bu sayede doğru sonuca ulaşabiliriz, kaliteli elemanlar yapabiliriz. Bu çalışmada rezonans yöntemi ile maddelerin 2-18 GHz bandı ndaki yansıma katsayıları ölçülmüş, ölçüm düzenindeki sistematik hatalar mıkroişleyici yardımı ile düzeltilmeye çalışılmıştır. Q faktörünün nasıl hesaplanacağı açıklanmıştır.
Özet (Çeviri)
İV SUMMARY Dielectric coefficient is one of the important parameter of materials to understand their properties. It must also be known in the communica tion and optical technology to develop and construct elements (such as resonator, beam splitter, lenses). For all this applications, the permittivity should be measured in a very accurate and precise way. Then, we could make right decisions, or we could produce high quality elements/devices. In this thesis, the rezonance method is employed to measure the reflection coefficient of the materials, between 2 GHz and 18 GHz and the systematic errors which are in the measuring system, are corrected by using micro processor. Computation of the quality factor is explained.
Benzer Tezler
- The Utilization of multimicro-processor systems for functional testing of rams
Başlık çevirisi yok
M.DEMİR ÇİĞDEMOĞLU
Yüksek Lisans
İngilizce
1988
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiPROF. DR. SELÇUK GEÇİM
- Katı yakıtlı roketlerin iç balistik parametrelerinin mikrobilgisayar yardımıyla ölçülmesi
Başlık çevirisi yok
AHMET İZZET ERÇEVİK
Yüksek Lisans
Türkçe
1991
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiDOÇ.DR. SELÇUK GEÇİM
- Implementations of a cross assembler and a software simulator for M6800 microprocessor
Başlık çevirisi yok
SERAP KAYA
Yüksek Lisans
İngilizce
1988
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiDOÇ. DR. MURAT AŞKAR
- Mikroişleyici destekli genel amaçlı endüstriyel proses kontrol sistemi tasarımı
Başlık çevirisi yok
MEHMET DEMİRER
Yüksek Lisans
Türkçe
1988
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiElektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. SELÇUK GEÇİM
- Mikroişlemcili optik asansör denetim dizgesi
Başlık çevirisi yok
NECATİ ÖZTÜRK
Yüksek Lisans
Türkçe
1988
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiDokuz Eylül ÜniversitesiElektrik-Elektronik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. COŞKUN İŞÇİ