Geri Dön

Characterization and imaging of single layered materials by the lamb wave lens

Tek katmanlı malzemelerin lamd dalgası merceği ile tanımlanması ve görüntülenmesi

  1. Tez No: 14673
  2. Yazar: F.LEVENT DEĞERTEKİN
  3. Danışmanlar: PROF.DR. ABDULLAH ATALAR
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Katmanlı malzeme tanımlanması, Lamb dalgası merceği, Mikroskop, Taramalı akustik mikroskop, Layered material characterization, Lamb wave lens, Microscope, Scanning acoustic microscope
  7. Yıl: 1991
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
  10. Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Özet yok.

Özet (Çeviri)

Özet çevirisi mevcut değil.

Benzer Tezler

  1. İmalat sistemlerinin tasarlanması ve öncelik kurallarının belirlenmesinde yapay sinir ağlarının kullanılması

    <the use of neural networks in determination of the manufacturing systems design and dispatching rules

    TARIK ÇAKAR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1997

    İşletmeİstanbul Teknik Üniversitesi

    İşletme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AYHAN TORAMAN

  2. Değişken rezolüzyonlu görüntü örnekleyici

    Multi resolution image sampler

    RIZA CAN TARCAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1991

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Y.DOÇ.DR. M. SAİT TÜRKÖZ

  3. Geliştirilmiş bir ultrasonik darbeli doppler kan akış ölçme düzeninde hata kaynaklarının analizi

    The Analysis of error sources at a developed pulsed doppler blood flowmeter

    İNAN GÜLER

  4. Statistical characterization of the point spread function (PSF) of a turbulence degraded imaging system

    Başlık çevirisi yok

    M.FATİH ERDEM

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1993

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. GÜRHAN ŞAPLAKOĞLU