X-ray photoelectron spectroscopic investigation of gold particles deposited on SiO2/Si system
SiO2/Si numunesi üzerine depolanan altın parçacıklarının x-ışını fotoelektron spektroskopisi yöntemi ile incelenmesi
- Tez No: 139325
- Danışmanlar: PROF. DR. ŞEFİK SÜZER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Kimya, Chemistry
- Anahtar Kelimeler: Altın, SİO2/S1, XPS, Yük Birikimi, Açıya Bağlı XPS, Dışarıdan Voltaj Uygulama Yöntemi, Auger Parametresi, Sitrat Kaplaması, İndirgenme, Büyüme. VII, Gold, SİO2/Sİ, XPS, charging, Angle Resolved XPS, Application of an External Bias, Auger Parameter, Citrate Capping, Reduction, Nucleation. V
- Yıl: 2003
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Kimya Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET SİO2/Sİ NUMUNESİ ÜZERİNE DEPOLANAN ALTIN PARÇACIKLARININ X-ISINI FOTOELEKTRON SPEKTROSKOPİSİ YÖNTEMİ İLE İNCELENMESİ FERDİ KARADAŞ Kimya Bölümü Yüksek Lisans Tezi Tez Yönericisi: Prof. Dr. Şefik Süzer Temmuz 2003 SİO2/Sİ numunesi üzerine depolanan altın parçacıkları X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) yöntemi ile incelendi. Altına ait tepede meydana gelen kimyasal kaymaya sebep olan fiziksel/kimyasal etkenleri araştırmak için uygun bir referans noktası tespit edilmeye çalışıldı. Altın parçacıkları; i) Au3+ sulu çözeltisi kullanılarak doğrudan, i i) sitrat bileşiğiyle kaplandıktan sonra, i i) NaBH4 ile kimyasal olarak indirgendikten sonra SİO2/S1 üzerinde depolandı. Ayrıca, altın parçacıkları farklı numuneler üzerinde depolandı (cam, kuvars). Numuneye dışarıdan voltaj uygulanması ile Si4+ 2p ile Au° 4f tepelerinin benzer kaymalar göstermesi SİO2 tabakasının referans olarak kullanılabileceğini gösterdi. Hesaplanan Auger parametreleri ve dışarıdan voltaj uygulanması ile Si4+ tepesinde meydana gelen kaymanın tamamiyle yük birikiminden kaynaklandığını gösterdi. Altın parçacıkları sulu çözeltiden depolanıp, X-ışınlarına maruz bırakılması sonucu indirgenme ve parçacıkların büyümesi işlemlerinin birlikte meydana geldiği tespit edildi. Bunun yanısıra, altın parçacıkları üzerindeki diferansiyel yük birikimi, Au° ile Si4+ tepelerinin; i) bağlanma enerjileri, ii) FWHM değerleri, ve iii) şiddetleri kıyaslanarak araştırılmıştır. Açıya bağlı XPS yöntemi ile altın parçacıklarının üç-boyutlu büyümeyi tercih ettiğini gösteren veriler elde edildi. VISİO2 tabakasının Si 2p tepesinin referans olarak alındığında, Au° tepesinin bağlanma enerjisi; i) sulu çözeltiden depolanan altın parçacıkları için 84.30 ± 0.05 eV, ii) sitrat kaplı altın parçacıkları için 84.00 ± 0.05 eV, iii) NaBFU ile kimyasal olarak indirgenerek elde edilen altın parçacıkları için 84.10 ± 0.05 eV olarak tespit edildi. Görünür bölge soğurma bandlannın takibi ve elektroforez yöntemi ise sitrat kaplı altın parçacıklarının eksi yüke sahip olduklarını ve SİO2/Sİ numunesi üzerinde depolanıp tekrar çözeltiye alındığında, tersinir bir şekilde toplandıklarını -pıhtılaşma olmadığım- gösterdi.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF GOLD PARTICLES DEPOSITED ON Si02/Si SYSTEM FERDİ KARADAŞ M.S. in Chemistry Supervisor: Prof. Dr. Şefik Süzer July, 2003 Gold particles on SiCVSi system were investigated by X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) technique. A suitable reference point was first established in order to investigate the physical/chemical factors affecting chemical shift of gold particles. Gold particles were: i) deposited directly from aqueous solution, ii) capped with citrate agent and then deposited, iii) reduced chemically by NaBHU and deposited on SİO2/Sİ system. In addition, gold particles were deposited onto different substrates (quartz, glass). Similar chemical shift of Si4+ 2p and Au° 4f peak upon the application of external bias gave a strong evidence to the assumption that Si02 could be chosen as reference. In addition, the derived Auger Parameters have shown that chemical shifts observed during the application of external bias are solely due to charging. It was shown that reduction and nucleation processes occur at the same time during X-ray exposure when gold particles are deposited from aqueous solution. Differential charging of gold particles was investigated by measuring the changes in: i) binding energy, ii) FWHM and iii) intensity values of Au° and Si4+ peaks. Our findings obtained from Angle Resolved XPS method supported the assumption that gold particles deposited from aqueous solution prefer to grow three-dimensionally. Assuming the Si 2p binding energy of Si4+ peak as a reference, the binding energy of gold particles is: i) 84.30 ± 0.05 eV when gold is deposited from aqueous solution, ii) IV84.00 ± 0.05 when citrate capped gold particles are used, iii) 84.10 ± 0.05 when gold is chemically reduced by NaBH4. Vis-absorption and electrophoresis methods have shown that capped gold particles have negative charges and they aggregate reversibly (i.e. without coagulation) when they are deposited on SİO2/Sİ system from their aqueous solution (and transferred back).
Benzer Tezler
- Investigation of electrical properties of surface structures by X-ray photoelectron spectroscopic technique under external voltage stimuli
Dışarıdan verilen voltaj yardımıyla yüzey yapılarının elektriksel özelliklerinin x-ışını fotoelektron spektroskopisi kullanılarak incelenmesi
KORCAN DEMİROK
- X-ray photoelectron spectroscopic and in-situ infrared investigation of a Ru/SiO2 catalyst
Bir Ru/SiO2 katalizörünün x-ışını fotoelektron spektroskopisi ve yerinde infrared yöntemiyle incelenmesi
ŞAFAK SAYAN
Yüksek Lisans
İngilizce
1997
Kimyaİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞEFİK SÜZER
- Bazı naftaldimin ve salisilaldiminlerin çeşitli voltametrik tekniklerle elektrokimyasal davranışlarının incelenmesi
Investigation of electrochemical behaviour of some naphtaldimines and salicilaldimines by various voltammetric techniques
FARUK GÖKMEŞE
- Investigation on electrical charging/discharging properties of thin PS/PMMA polymeric films by dynamic X-ray photoelectron spectroscopy
İnce PS/PMMA polimer filmlerinin elektriksel özelliklerinin dinamik XPS ile incelenmesi
HİKMET SEZEN
Yüksek Lisans
İngilizce
2008
Kimyaİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞEFİK SÜZER
- CeO2-TiO2(CeO2-ZrO2) ince filmlerinin oluşturulması, optik yapısal ve bazı elektrokimyasal özelliklerinin incelenmesi
Preparation and investigation of optical, structural and some electrochemical properties of CeO2-TiO2(CeO2-ZrO2) thin films
FARHAD E GHODSİ
