Simultaneous STM/ AC-AFM investigation of clean Si(001)-(2x1) surface and Ge epitaxial growth on Si(001)-(2x1)
Temiz Si(001)-(2x1) yüzeyi ve üzerine eşörgüsel Ge tabakası büyütülmüş Si(001)-(2x1) yüzeylerinin TTM/ temassız AKM eşzamanlı kullanılarak incelenmesi
- Tez No: 112544
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Ultra Yüksek Vakum Sistemi, Taramalı Tünelleme Mikroskobu, Atomik Kuvvet Mikroskobu, Kuvvet-Uzaklık Tayfı, Eşörgüsel Büyüme. m, Germanyum, Silisyum, Spektrum, Vakum, Ultra High Vacuum, Scanning Tunnelling Microscopy, Atomic Force Microscopy, Force-Distance Spectroscopy, Epitaxial growth. u, Germanium, Silicon, Spectrum, Scanning tunnelling microscope, Vacuum
- Yıl: 2001
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Özet TEMİZ Sİ(001)-(2xl) YÜZEYİ VE ÜZERİNE EŞÖRGÜSEL GE TABAKASI BÜYÜTÜLMÜŞ Sİ(001)-(2xl) YÜZEYLERİNİN TARAMALI TÜNELLEME MİKROSKOBU VE TEMASSIZ ATOMİK KUVVET MİKROSKOBUNUN EŞZAMANLI KULLANILARAK İNCELENMESİ Mehrdad Atabak Fizik Yüksek Lisans Tez Yöneticisi: Asst. Prof. Ahmet Oral Eylül 2001 Bu tez çalışmasında, taramalı tünelleme mikroskobu (TTM) ve temassız atomik kuvvet mikroskobu (temassız- AKM), temiz Si(001)-(2xl) yüzeylerinin ve üzerinde eşörgüsel büyütülmüş germanyum olan Si(001)-(2xl) yüzeylerinin incelenmesinde birlikte kullanılmıştır. TTM/temassız-AKM ve mikroskobun içine kurulduğu ultra yüksek vakum sistemi tanıtıldı. Bu mikroskobun temiz Si(001) yüzeyini ve üzerinde eşörgüsel germanyum büyütülmüş Si(001) yüzeyini ve Si (001) 'in kuvvet-uzaklık tayfını görüntülemekteki kapasitesi gösterildi.
Özet (Çeviri)
Abstract SIMULTANEOUS STM/NC-AFM INVESTIGATION OF CLEAN SI(001)-(2 x 1) SURFACE AND GE EPITAXIAL GROWTH ON SI(001)-(2 x 1) Mehrdad Atabak M. S. in Physics Supervisor: Asst. Prof. Ahmet Oral September 2001 In this thesis work, a combined Scanning Tunnelling Microscope and non- contact Atomic Force Microscope -STM/ncAFM- is used to investigate clean Si(001)-(2 x 1) and Ge epitaxial growth on Si(001)-(2 x 1) surfaces. The STM/nc-AFM and Ultra High Vacuum system (UHV) in which the microscope is installed, are also described. The capability of our new microscope to image the clean Si(001) and Ge epitaxial growth on Si(001) and force-distance spectroscopy on Si(001) is demonstrated.
Benzer Tezler
- Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy
Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi
HAKAN ÖZGÜR ÖZEN
Doktora
İngilizce
2001
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU
YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Krom (VI), Bakır (II), Demir (III) iyonlarının tek ve çok bileşenli metal sistemlerinde R.arrhizus'la biyosorpsiyonunun sürekli karıştırmalı kablarda incelenmesi
Başlık çevirisi yok
H.EMRECAN ÇUBUKÇU
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
KimyaHacettepe ÜniversitesiKimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TÜLİN KUTSAL
- Sürekli karşılaştırmalı reaktörlerde Rhizopus Arrhizus ile çoklu metal karışımlarının yarışmalı biyosorpsiyonun incelenmesi
Investigation of the competitive biosorption of multicomponent metal systems by Rhizopus Arrhizus in a continuous reactor
ARDA YALÇUK
Yüksek Lisans
Türkçe
1999
Kimya MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiKimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. TÜLİN KUTSAL
- The effectiveness of superimposed advertisements versus traditional commercials
Bant reklamların ve geleneksel televizyon reklamlarının etkililik açısından karşılaştırılması
PINAR KOCABIYIKOĞLU
Yüksek Lisans
İngilizce
2004
İşletmeOrta Doğu Teknik ÜniversitesiPsikoloji Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. BENGİ ÖZKAN
- Simultaneous heat, mass and momentum transfer in porous media: Atheory of drying
Başlık çevirisi yok
İBRAHİM TİMUÇİN İNCE